上照式镀层测厚仪

镀层分析仪适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。被广泛应用于汽车制造、航空航天、造船、五金产品、标准件、电子元器件、电器零部件、机械零部件、卫浴装饰产品、珠宝首饰等领域。

典型的应用领域有：

• 测量大规模生产的电镀部件；

• 测量**薄镀层，例如：装饰铬；

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；

• 测量印刷线路板；

• 分析电镀溶液；

设计理念：

晓INSIGHT是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的Z轴系统。

高分辨率的摄像头具备强大的放大功能，可以精确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。

测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。

带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精确调整。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的软件在电脑上完成。

通用规格

设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定**薄镀层和溶液分析；

特点：自上而下的测量结构，XYZ测量平台，Muti-FP多层算法；

元素范围：Na(11)-Fm(100) ；

分析层数：5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析较多可分析25种元素；

X射线管：50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）；

探测器：Si-Pin探测器，(高灵敏度SDD探测器可选配)；

准直器：φ0.1-φ0.5可选，多准可选；

视频系统：高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素，沿着初级X射线光束方向观察测量位置，对被测位置进行监控十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），激光光点用于精确定位样品；

放大倍数：40x – 160x；

工作台：

设计：手动样品X/Y平台（可编程XY平台选配）；

X/Y平台 移动范围：100 x 150 mm；

Z轴移动范围：150 mm；

样品仓尺寸：宽×深×高[mm]:520×480×170；

外形尺寸：宽×深×高[mm]:624×702×730；

重量：120KG；

电源：AC 220V±5V 50Hz；

额定功率：150W；